表面粗糙度測(cè)量裝置粗糙度參數(shù)基于粗糙度輪廓來(lái)評(píng)估，粗糙度輪廓是通過(guò)使用輪廓濾波器來(lái)抑制原始輪廓的長(zhǎng)波分量而獲得的。它是偏離平均線(xiàn)的輪廓的算術(shù)平均值，并以采樣長(zhǎng)度定義。

　　影響濾波數(shù)據(jù)的因素如下：

　　1、采樣長(zhǎng)度和評(píng)估長(zhǎng)度的選擇：采樣長(zhǎng)度用于確定具有表面粗糙度特征的參考線(xiàn)的長(zhǎng)度。評(píng)估的長(zhǎng)度是評(píng)估粗糙度時(shí)必須采用的函數(shù)。

　　反映加工表面粗糙度的小長(zhǎng)度。

　　2、濾波器的高通和低通采樣長(zhǎng)度和帶寬比的選擇對(duì)測(cè)量結(jié)果也有非常重要的影響。采樣波長(zhǎng)是測(cè)量表面形貌時(shí)儀器響應(yīng)的表面特征（表面波長(zhǎng)）之間的長(zhǎng)距離，表面粗糙度測(cè)量裝置其范圍通常為0.08mm~8mm。

　　主要缺點(diǎn)如下：

　　1）測(cè)量參數(shù)較少，一般只能測(cè)量少量參數(shù)如Ra，Rz，Ry;

　　2）測(cè)量精度較低，測(cè)量范圍小，Ra值范圍一般在0.02~10 m左右;

　　3）測(cè)量方法不靈活，如選擇評(píng)估長(zhǎng)度，濾波器選擇;

　　4）測(cè)量參數(shù);數(shù)據(jù)處理速度慢，輸出不直觀。

　　表面粗糙度測(cè)量裝置造成這些缺點(diǎn)的主要原因是：系統(tǒng)可靠性不高，模擬信號(hào)誤差大，處理不方便，計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理能力弱，算法不夠簡(jiǎn)單有效。